电话:010-82439380

中文 | EN

咨询

姓名

姓名不能为空

手机号

手机号不能为空

邮箱

邮箱不能为空

单位

单位不能为空

内容

内容不能为空

首页 产品 光谱仪和系统 LIBS元素分析仪 LIBS元素分析仪

名称:LIBS元素分析仪

型号:LEA-S500

LEA-S500 是一款融合了现代光学、激光、光谱和软件等领域的最尖端科技而成的强有力的工具,它能在几分钟内检测样品中的所含的化学成分。

元素分析仪LEA-S500


LEA-S500 是一款融合了现代光学、激光、光谱和软件等领域的最尖端科技而成的强有力的工具,它能在几分钟内检测样品中的所含的化学成分。


产品特点:

  • 20Hz双激光脉冲激发
  • 175nm-850nm高量子效率CCD探测器
  • 系统含抽气装置,优化175-193nm波段范围
  • 最低检测限可达0.1ppm
  • 5分钟内能定量分析50种元素
  • 样品全部元素定量分析在3至30分钟内即可完成
  • 可分析任何固体或粉末状材料
  • 最小雾化质量(元素分析消耗量)小于50纳克


产品功能:

  • 极少的样品消耗即可测得样品的化学元素或氧化物质量分数(浓度)
  • 快速的多元素分析功能,一次测试即可获得样品的全部元素分析数据
  • 很宽的浓度范围内都可以获得高灵敏度及精确数据
  • 无需改变样品的状态即可测试
  • 通过位置及视频系统对样品表面指定区域进行分析
  • 可以对腐蚀物、薄膜、沉积物、表面进行逐层分析
  • 可以对夹杂物、缺陷、瑕疵分析





缺陷分析与结构组成



缺陷分析与结构组成是在LIBS广阔的应用中,有代表性的应用价值。LEA-S500的LIBS系统,具有一体化,自动化程度高、使用简单、灵敏度高等特点,稳定而精密的光学设计,为用户在使用过程中带来极大的方便。以下三个是有较为代表性的应用,产品性能可窥一斑:








材料缺陷是影响材料的性能的材料的化学组成的局部变化,

上图光谱图中缺陷的检测是由纯玻璃光谱和缺陷谱的对比来实现。LEA-S500的定位系统可提供的1微米的定位精度,所以缺陷的定性分析大小应不小于5微米,如果定量分析,缺陷的大小应不小于150微米。

上图中的缺陷,是由于在玻璃炉的高温制备中,引入金属锆所导致的成分破坏。在初始阶段的快速诊断会在极大程度上避免不必要的昂贵的损失。扫描分析时间为2分钟。









表面元素的均匀性控制(上图)

元素分布在材料表面的控制提供了有关样品分析的一些新信息。 LEA-S500可提供高精确,快速和低成本的分析。同时还可提供步距为100ummapping分析。该分析结果还可用于材料组成均匀性的认证参考。












通过控制精确的激光脉冲的将样品的表层连续蒸发,同时可以测得样品的成分信息与膜厚信息,提供的组合物和多层涂层和薄膜的厚度与元素组成信息。在复合材料中有非常大的应用潜力。




SOL INSTRUMENTS